Test & Mesure
Recherche et industrie

Les Imaging Modules d'Opto sont disponibles avec un éclairage LED annulaire diffus intégré (entièrement ou partiellement contrôlable) ainsi qu'avec un éclairage LED coaxial.

Divers grossissements, distances de travail et procédés de contraste optique sont disposibles dans les différents facteurs de formes des Imaging Modules.

Versions USB3 ou GigE pour les fabricants de machines et les intégrateurs.

Les applications courantes sont :

- Contrôle des CMS
- Test de dureté basé sur l'image
- Analyse de sertissage 
- Contrôle qualité et inspection
- Base de données
- Industrie 4.0 - Solutions de détection
- Zoom numérique pour une vue d'ensemble ou detaillée

contrôle qualité optique

Le secteur Test & Mesure englobe toutes les applications industrielles dans lesquelles des structures microscopiques doivent être visualisées et analysées.

Voici quelques exemples de domaines dans lesquels les modules d'imagerie sont utilisés :

- Technologie des semi-conducteurs, contrôle des CMS, analyse des brasures.
- Automobile, contrôle qualité, contrôle de process, inspection de cylindres
- Métallographie (contrôle de la dureté, analyse de sertissage, contrôle des soudures)

- Energie, inspection de panneaux solaires

Des Imaging Modules pour la science des matériaux

Tâches

- analyse des grains et de la structure des métaux
- maintenance prédictive des processus de production
- contrôle qualité des pièces mécaniques
- évaluation des dommages liés aux dysfonctionnements des métaux

Solution

- IM-compact M (MVM) avec éclairages annulaire et coaxial intégrés
- faible encombrement avec statif de microscope portable et mallette de transport
- logiciel OptoViewer 2.0 gratuit et facile à utiliser
- modules pré-calibrés, directement prêts à l'emploi

Valeur ajoutée

- Microscope numérique tout-en-un
- résolution micrométrique/pixel avec un grand champ d'observation
- contraste et stabilité des couleurs élevés
- reproductibilité de l'image

Contrôle des wafers et PCB avec les Imaging Modules

Tâches

- analyse optique des défauts, contrôle qualité et documentation des CI, FPGA, BGA
- inspection de PCB à une face, à deux faces ou multicouches
- détection de fissures, de courts-circuits, de connexions électriques ou de ponts défectueux
- inspection optique post-bond / post-reflow avec comptage de broches et identification de composants
- détection d'irrégularités dans le revêtement des wafers
- analyse des impuretés, des fissures ou identification des particules et des rayures

Solution

- IM•compact M ou IM•linea XL dans leur variante monochrome ou couleur
-  optimisée pour l'application optoélectronique disponible en USB 3.1 ou GigE - Plug&Play
- logiciel OptoViewer 2.0 gratuit et facile à utiliser
- différents SDK et toolkits ainsi que des plugins BV pour l'intégration dans les machines

Valeur ajoutée

- Microscope numérique tout-en-un optimisé portatif
- plus compact que les microscopes traditionnels 
- données d'image fiables avec une qualité d'image maximale et une bonne fidélité des couleurs
- bon rapport qualité/prix avec support logiciel

Screening de wafers avec un microscope numérique IM•compact M

Un microscope numérique IM•compact M est parfaitement adapté à l'analyse des surfaces réfléchissantes des wafers et à la visualisation des structures les plus petites. 

Les caractéristiques suivantes sont exceptionnelles dans un seul module d'imagerie :

- éclairage coaxial en champ claire intégré 
- conception compacte et robuste 
- énchange rapide entre différents modules
- optique du microscope corrigée apochromatiquement avec longue distance de travail
- capteur d'image Sony IMX 5MP
- architecture logicielle ouverte avec son propre SDK

Inspection des cordons de soudure

L'analyse de soudure est un défi typique pour les laboratoires de métallographie. Le Machine Vision Microscope (MVM) avec éclairage coaxial et annulaire est parfait pour l'inspection des micro-soudures.

Un microscope numérique Plug&Play.

- Grossissement du système : 3,75x
- Champ observé : 2,3 x 1,9 mm
- Distance de travail : 37 mm
- Résolution de mesure : 0,9 µm/pixel
- Capteur : 5MP Sony IMX264 monochrome
- Interface : USB 3.1 Gen1

Avec le logiciel gratuit fourni OptoViewer, il est également possible d'effectuer facilement des mesures (Imaging Module calibré avant livraison).

Essai de dureté (Vickers & Brinell)

Un test de microdureté nécessite des images de microscopie optique de très haute qualité. Opto fournit depuis des années des Imaging Modules pour ce domaine.

solino^TM offre à cet égard une valeur ajoutée considérable :

- l'analyse de la réflexion permet de détecter des micro-incisions ou d'autres anomalies sur une grande surface

- avec une caméra standard, la position d'une entaille de quelque μm peut être déterminée sur une grande surface

- grâce à la technologie solino^TM utilisée, la configuration 'vision' est indépendante de la surface de l'objet ou des conditions de lumière ambiante